Wpływ pól elektromagnetycznych na różnego typu przyrządy pomiarowe

W przypadku mierzenia podstawowych wielkości elektrycznych, jak wartości prądu czy napięcia, wpływ zaburzeń elektromagnetycznych zależy od typu zastosowanego urządzenia. Proste systemy pomiarowe stosowane np. w tanich multimetrach będą na ogół bardzo wrażliwe na działanie zakłóceń.

Wpływ pól elektromagnetycznych na różnego typu przyrządy pomiarowe

W przypadku mierzenia podstawowych wielkości elektrycznych, jak wartości prądu czy napięcia, wpływ zaburzeń elektromagnetycznych zależy od typu zastosowanego urządzenia. Proste systemy pomiarowe stosowane np. w tanich multimetrach będą na ogół bardzo wrażliwe na działanie zakłóceń.

Związane jest to z samych charakterem ich działania, układy te wychwytują np. najwyższą wartość napięcia, czyli mierzą nie wartość średnią dla prądu stałego czy prawdziwą wartość skuteczną w układach prądu zmiennego, tylko maksymalną wartość, jaką uda im się wykryć. Niestety nie jest to rzadki sposób działania i może się okazać, że stosowany jest także w dość drogich urządzeniach pomiarowych. Tak działające przyrządy mają tendencję do pokazywania wyniku wyższego niż rzeczywisty, gdyż wychwytują zakłócenia. Jeśli bardziej złożone urządzenia, takie jak np. mierniki mocy, mierniki impedancji pętli zwarcia, mierniki energii, będą bazowały na takich właśnie uproszczonych pomiarach napięcia i prądu, możemy również spodziewać się, że wyniki pomiarowe nie będą miarodajne.

Innymi urządzeniami, dla których pomiar w obecności zaburzeń elektromagnetycznych jest problematyczny, są oscyloskopy. W przypadku tych przyrządów duże znaczenie przy eliminacji błędów, ma zastosowanie odpowiednich sond oscyloskopowych, ale także użycie ich w odpowiedni sposób.

Kolejną grupą urządzeń, które należy traktować w sposób specjalny w obecności pól elektromagnetycznych, są przyrządy takie jak: analizatory jakości energii elektrycznej czy rejestratory przebiegów. Działają one podobnie do oscyloskopów, próbkując bardzo szybko mierzone napięcia i prądy, co powoduje również wykrycie obecnych w sondach pomiarowych zakłóceń.

Autor: dr inż. Łukasz Rosłaniec, absolwent studiów magisterskich i doktoranckich na Wydziale Elektrycznym Politechniki Warszawskiej